| 큐알티, 국내 최초 개별 DUT 관리 시스템(IDMS) 개발,
테스트 중요 변수에 대한 별도 제어 및 모니터링 가능
- 국내 최초 개별 DUT 관리 시스템 개발로 반도체 시험 결과에 대한 구체적인 분석 가능
- 개별 DUT 전원 차단 기능으로 테스트 중 나타나는 열화 현상에 대한 별도 제어
- 고객사의 니즈를 맞춤형으로 수용.. 다양한 테스트 결과값을 제공하여 반도체 품질 향상 기대
반도체 및 전자부품 신뢰성 분석 기업 큐알티(QRT, 대표 김영부)가 국내 최초로 개발한 개별 DUT 관리 시스템인 내장형 IDMS(Individual DUT Management System)가 업계에서 주목을 받고 있다.
IDMS는 개별 DUT(Device Under Test, 시험 중인 소자)에 대한 온도, 전력제어 및 모니터링이 가능한 시스템으로 반도체 신뢰성 평가 중 문제가 발생된 시점, 위치 등에 대한 구체적인 정보를 얻어낼 수 있다. 개별 시료마다 독립적으로 일어날 수 있는 과다전류에 의한 열화현상을 조기에 파악할 수 있으며, 정확히 오류 발생 시점에 해당 개별 DUT 전원만을 차단할 수 있는 제어기능까지 갖추고 있다. 고객사가 의뢰한 반도체 신뢰성 평가에 대한 구체적인 테스트 로그 데이터를 제공함으로써 시험 결과에 대한 구체적인 분석을 할 수 있게 되는 핵심기술이다.
기존 신뢰성 평가는 시험보드에 인가되는 전압, 전류값은 측정할 수 있지만, 개별 시료에 인가되는 구체적인 상세 데이터 측정값이 필요했다. 이 점을 해결하기 위해 큐알티는 국내 최초로 RF출력, 소모전력, 온도 등의 중요 변수를 별도로 제어하거나 감시할 수 있는 IDMS를 개발해 상용화에 성공했다.
큐알티의 IDMS는 메모리, 시스템 반도체를 비롯한 LSI(대규모 직접회로)를 대상으로 전압과 벡터를 인가해 모니터링이 필요한 전 제품군에 적용이 가능하며 상세 로그를 실시간으로 관리할 수 있다. 더욱이 테스트 중 나타나는 열화현상에 대해 전체 보드 불량까지 연쇄적으로 확산되지 않도록 조기에 진압할 수 있어 테스트 중단 없이 시간과 비용을 절약할 수 있다.
큐알티 윤성조 선임연구원은 “큐알티의 IDMS 시스템을 활용한 모니터링 기술은 고집적, 고정밀 칩들의 신뢰성 문제가 중요해지는 추세에 맞춰 보다 구체적인 데이터를 제공하며, 반도체의 품질 향상에 기여할 것으로 기대한다”고 말했다. (끝)
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